Подповерхностные дефекты – подповерхностный дефект - это... Что такое подповерхностный дефект?

Содержание

подповерхностный дефект — это… Что такое подповерхностный дефект?

subsurface defect
surface defect

Смотреть что такое «подповерхностный дефект» в других словарях:

подповерхностный дефект — На глубине 0,5 1,0 мм от поверхности изделия. [http://metaltrade.ru/abc/a.htm] Тематики металлургия в целом EN subsurface defect … Справочник технического переводчика
ПОДПОВЕРХНОСТНЫЙ ДЕФЕКТ — [subsurface defect] дефект на глубине 0,5 1,0 мм от поверхности изделия … Металлургический словарь
Подповерхностный дефект при магнитопорошковой дефектоскопии — Подповерхностный дефект несплошность, располагающаяся у поверхности детали, но не выходящая на поверхность… Источник: МАШИНЫ ГРУЗОПОДЪЕМНЫЕ . КОНТРОЛЬ МАГНИТОПОРОШКОВЫЙ. ОСНОВНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ. РД РОСЭК 003 97 (утв. РосЭК 23.12.1997) … Официальная терминология
дефект подповерхностный — Дефект, расположенный вблизи поверхности объекта контроля и не выходящий на ее поверхность. Примечание Подповерхностные дефекты в отличие от поверхностных при магнитопорошковом контроле образуют, как правило, нечеткие, размытые индикаторные… … Справочник технического переводчика
дефект прокатки — [rolling defect] дефект (1.) поверхности или формы металла, образующийся при прокатке. Смотри также: Дефект дефект формы дефект упаковки радиационный дефект … Энциклопедический словарь по металлургии
дефект разливки — [casting defect] дефект (1.) металла, обусловленный нарушением технологии разливки. Смотри также: Дефект дефект формы дефект упаковки радиационный дефект дефект прокатки … Энциклопедический словарь по металлургии
дефект формы — [shape defect] отклонение формы изделия от заданной технологическим условиями (напр, кривизна, неплоскостность, серповидность и т.д.). Смотри также: Дефект дефект упаковки радиационный дефект … Энциклопедический словарь по металлургии
дефект упаковки — [stacking fault] нарушение чередования плотноупакованных атомных слоев в кристаллической решетке. Например, чередование атомных слоев в плотной упаковке АВСАСАВС… свидетельствует, что в ГЦК решетке (чередование слоев АВСАВС…) имеется… … Энциклопедический словарь по металлургии
дефект кристаллической решетки — [lattice defect] нарушение закономерного периодического расположения материальных частиц (атомов, ионов, молекул) по узлам пространственной решетки кристалла. Дефекты кристаллической решетки подразделяют на точечные, линейные и поверхностные.… … Энциклопедический словарь по металлургии
Дефект — [defect] 1. Отклонение от предусмотренного техническими условиями качества готового металлоизделия или полупродукта, частично или полностью нарушенная совокупность свойств изделия данного вида (химический состав, структура, сплошность и др.),… … Энциклопедический словарь по металлургии

metallurgicheskiy.academic.ru

Подповерхностный дефект — Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1

Подповерхностный дефект

Cтраница 1

Подповерхностные дефекты легко выявляются также и при намагничивании пульсирующим полем однополупериод-ного выпрямленного тока. [1]

Подповерхностные дефекты вызывают менее резко очерченные рисунки, так как сцепление порошка с поверхностью детали ослаблено. [2]

Подповерхностные дефекты на глубине примерно до 100 мкм могут быть обнаружены практически при такой же высокой чувствительности, что и поверхностные дефекты. При большем расстоянии от поверхности до дефекта ( 2 — 3 мм) могут быть обнаружены более грубые дефекты, чем при выявлении поверхностных нарушений сплошности. [3]

Подповерхностные дефекты дают менее четкое отложение валика порошка и, как правило, могут быть обнаружены ( при глубине залегания более 200 — 300 мкм) только способом приложенного поля. [5]

При подповерхностных дефектах для контроля применяют также и головные волны. [6]

На глубокозале-гающих подповерхностных дефектах ( в пределах чувствительности метода) осаждения имеют вид размытых полосок с нерезкими, нечеткими границами. [7]

Ею выявляют подповерхностные дефекты. Поперечная волна на донной поверхности также частично трансформируется в головную, бегущую вдоль донной поверхности. Ею выявляют дефекты вблизи этой поверхности. [9]

Для выявления подповерхностных дефектов применяют головную волну. В каждой точке поверхности ею порождается поперечная волна, уходящая под углом, равным третьему критическому. В связи с этим амплитуда головной волны быстро убывает с расстоянием. [10]

Для выявления подповерхностных дефектов применяют головные ( продольные подповерхностные) волны, возникающие при наклонном падении УЗК на поверхность изделия под углом, равным первому критическому. [11]

Для обнаружения подповерхностных дефектов способом взвеси необходимо выполнить следующие работы. [13]

Для выявления подповерхностных дефектов применяют зродольные подповерхностные волны, возникающие при наклонном падении ультразвука на поверхность изделия под углом, равным первому критическому. Эти волны нечувствительны к неровностям и дефектам на поверхности изделия i достигают максимума чувствительности на глубине 5 — 10 мм от поверхности. [15]

Страницы: 1 2 3 4 5

www.ngpedia.ru

способ выявления подповерхностных дефектов в ферромагнитных объектах — патент РФ 2442151

Изобретение относится к неразрушающему контролю. Способ выявления подповерхностных дефектов в ферромагнитных объектах заключается в том, что контролируемый объект намагничивают системой намагничивания, возбуждают с помощью вихретокового преобразователя вихревые токи, сканируют поверхность контролируемого объекта, регистрируют в процессе сканирования изменения вносимых в вихретоковый преобразователь параметров. При этом согласно изобретению частоту возбуждаемых вихревых токов выбирают из условия их проникновения в тонкий поверхностный слой контролируемого объекта, проводят измерение, по меньшей мере, одной из составляющей В индукции магнитных потоков рассеяния, а о наличии подповерхностных дефектов судят по совокупности полученных изменений и В. Изобретение обеспечивает повышение достоверности контроля. 5 ил.

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии объектов из ферромагнитных металлов.

Известен способ выявления подповерхностных дефектов в ферромагнитных объектах, заключающийся в том, что намагничивают контролируемый объект с помощью системы намагничивания, сканируют поверхность контролируемого объекта, регистрируют магниточувствительными элементами, по меньшей мере, одну составляющую индукции магнитных потоков рассеяния над контролируемым участком и по ее изменению судят о наличии подповерхностных дефектов [1].

Недостаток известного способа заключается в невозможности выявления дефектов, залегающих на глубине более 15 мм. Это связано с тем, что изменения магнитных потоков рассеяния, созданные такими дефектами, сопоставимы с изменениями шумовой составляющей, обусловленными вариацией влияющих факторов.

Наиболее близок к предложенному принятый за прототип способ выявления подповерхностных дефектов в ферромагнитных объектах, заключающийся в том, что контролируемый объект намагничивают системой намагничивания, возбуждают с помощью вихретокового преобразователя вихревые токи, проникающие на толщину контролируемого участка, сканируют поверхность контролируемого объекта, регистрируют в процессе сканирования изменение вносимых в вихретоковый преобразователь параметров и по величине этих изменений судят о наличии и параметрах подповерхностных дефектов [2].

Недостаток известного способа заключается в необходимости использования низких частот возбуждаемых вихревых токов, для обеспечения их проникновения на толщину контролируемого объекта. При этом снижается пропорциональная рабочей частоте абсолютная чувствительность к дефектам. Для обеспечения требуемой абсолютной чувствительности необходимо существенное увеличение размеров и числа витков катушек индуктивности вихретоковых преобразователей, что приводит к соответствующему уменьшению локальности контроля.

Цель изобретения — повышение достоверности контроля, путем повышения локальности пятна контроля.

Поставленная цель в заявляемом способе выявления подповерхностных дефектов в ферромагнитных объектах, заключающемся в том, что контролируемый объект намагничивают системой намагничивания, возбуждают с помощью вихретокового преобразователя вихревые токи, сканируют поверхность контролируемого объекта, регистрируют в процессе сканирования изменения вносимых в вихретоковый преобразователь параметров, достигается благодаря тому, что частоту возбуждаемых вихревых токов выбирают из условия их проникновения в тонкий поверхностный слой контролируемого объекта, проводят измерение, по меньшей мере, одной из составляющей В индукции магнитных потоков рассеяния, а о наличии подповерхностных дефектов судят по совокупности полученных изменений и В.

Проведенные заявителем патентно-литературные исследования не выявили технических решений с существенными признаками, идентичными или эквивалентными отличительным признакам заявляемого объекта. Таким образом, по мнению заявителя, заявляемое техническое решение соответствует критерию «существенные отличия».

На фиг.1 представлена схема контроля согласно заявляемому способу; на фиг.2 — зависимость амплитуды U_вн от глубины подповерхностного дефекта при намагничивании контролируемого объекта, на фиг.3 — изменение дифференциальной магнитной проницаемости металла от глубины дефекта при намагничивании контролируемого объекта; на фиг.4 — изменение дифференциальной магнитной проницаемости металла при изменении напряженности Н намагничивающего поля; на фиг.5 — изменение напряженности В_т тангенциальной составляющей индукции магнитных потоков рассеяния при изменении глубины дефекта.

Заявляемый способ реализуется с помощью схемы контроля, представленной на фиг.1. Она состоит из намагничивающей системы 1, вихретокового преобразователя 2, генератора 3 гармонического напряжения, последовательно соединенных компенсатора 4, усилителя 5, амплитудного детектора 6, блока 7 обработки и отображения информации, датчика 8 Холла, подключенного токовым входом к источнику 9, последовательно соединенных второго компенсатора 10, второго усилителя 11, подключенного своим выходом ко второму входу блока 7. Выход датчика 8 Холла подключен к входу компенсатора 10. Вихретоковый преобразователь 2 состоит из возбуждающей катушки 12, подключенной к выходу генератора 3, а также дифференциально включенных измерительной катушки 13 и компенсационной катушки 14, подключенных внешними выводами ко входу компенсатора 4. Все катушки вихретокового преобразователя соосны, возбуждающая катушка 12 находится между идентичными измерительной катушкой 13 и компенсационной катушкой 14, установленными с одинаковым осевым зазором относительно возбуждающей катушки 12. Намагничивающая система 1 выполнена П-образной и состоит из стержневых постоянных магнитов 15 и 16, соединенных магнитопроводом 17. Для обеспечения возможности сканирования с заданным зазором намагничивающая система 1 снабжена колесными опорами 18 и 19. Вихретоковый преобразователь 2 и датчик 8 Холла расположены в межполюсном пространстве намагничивающей системы и симметрично относительно ее стержней. Рабочий торец вихретокового преобразователя 2 и рабочие торцы намагничивающей системы 1 лежат в параллельных плоскостях. Рабочая поверхность датчика 8 Холла перпендикулярна рабочему торцу вихретокового преобразователя и плоскости, проходящей через оси симметрии боковых стержней П-образной намагничивающей системы 1.

На фиг.1 также показан контролируемый объект 20 в виде ферромагнитной пластины толщиной Т с подповерхностным дефектом 21 глубиной h, a также силовые линии 22 индукции В намагничивающего поля.

Заявляемый способ реализуется следующим образом.

Контролируемый объект намагничивают системой намагничивания 1. Величину напряженности Н намагничивающего поля рекомендуется выбирать не менее величины Н_м, обеспечивающей максимальную статическую магнитную проницаемость µ_ст=В/Н, где В — магнитная индукция, Н — напряженность магнитного поля в металле. Выбирают задаваемую генератором 3 частоту возбуждаемых вихревых токов из условия их проникновения в тонкий поверхностный слой контролируемого объекта, возбуждают с помощью вихретокового преобразователя 2 вихревые токи в контролируемом объекте 20. Затем компенсируют выходное напряжение вихретокового преобразователя 2 и выходное напряжение датчика 8 Холла на бездефектном участке контролируемого объекта 20 с помощью компенсаторов 4 и 10 соответственно и сканируют поверхность контролируемого объекта 20.

При наличии подповерхностного дефекта магнитный поток, создаваемый намагничивающей системой 1, перераспределяется, частично выходит за пределы металла, образуя магнитные потоки рассеяния, и концентрируется над дефектом. По этой причине дифференциальная магнитная проницаемость µ_d=dB/dH металла над дефектом 21, в том числе и на поверхности контролируемого объекта 20, изменяется. При изменении µ_d, связанном с воздействием подповерхностного дефекта, происходит изменение электромагнитного взаимодействия вихретокового преобразователя 2 с металлом. В результате изменяется величина вносимого в вихретоковый преобразователь 2 напряжения и происходит регистрация сигнала, обусловленного влиянием подповерхностного дефекта. Соответствующее изменение U_вн с выхода компенсатора 4 через усилитель 5 поступает на вход амплитудного детектора 6, а затем на первый вход блока 7 обработки и отображения информации. За счет того, что формируемое подповерхностным дефектом изменение µ_d считывается вихретоковым преобразователем 2 непосредственно с поверхности контролируемого объекта 20, нет необходимости в применении низкочастотных вихревых токов, проникающих вглубь металла. За счет этого размеры рабочего торца вихретокового преобразователя при реализации данного способа соответствуют стандартным размерам высокочастотных вихретоковых преобразователей и могут составлять величину порядка 1 5 мм, в зависимости от особенностей решаемой задачи.

Однако получение информации о наличии и параметрах подповерхностного дефекта путем считывания только сигнала, регистрируемого вихретоковым преобразователем 2, не обеспечивает надежного выявления подповерхностных дефектов. Это происходит из-за неоднозначности зависимости U_вн*= U_вн*(h), приведенной на фиг.2. Данная зависимость приведена для пластины толщиной Т=12 мм из стали марки Ст 45 при намагничивании магнитным полем с напряженностью Н=6000 А/м. По оси ординат здесь отложена величина относительного приращения амплитуды U_вн*= U_вн/U₀, где U₀ — напряжение, наводимое на измерительную обмотку 13 в режиме «холостого хода», т.е. при отсутствии взаимодействия вихретокового преобразователя 2 с металлом. Из приведенной зависимости видно, что начиная с некоторого значения глубины h дефекта 21 наблюдается стабилизация U_вн*, а затем и его уменьшение. Это может привести к пропуску наиболее опасного предсквозного дефекта. Данный характер зависимости U_вн*= U_вн*(h) сохраняется при изменении напряженности Н и изменении толщины Т. Это объясняется особенностями формирования µ_d на поверхности контролируемого объекта при увеличении глубины дефекта 21. Соответствующие зависимости изменения µ_d над подповерхностным дефектом типа трещины показаны на фиг.3. Здесь по оси абсцисс отложена координата Х от центра трещины в перпендикулярном к ее плоскости направлении. На фиг.3 дано семейство зависимостей µ_d=µ_d(X) для различных значений глубины h дефекта 21. Из приведенных зависимостей видно, что µ_d при изменении координаты X имеет один или три экстремума. При этом количество экстремумов, соотношение между их величинами и расстояние по оси X зависят от h. С увеличением h, кроме минимума µ_d, наблюдаемого над трещиной, формируются два максимума, симметрично смещенных относительно центра трещины. Соотношение изменений µ_d в точках максимума и минимумов с ростом h монотонно падает. Одновременно происходит пространственное сближение минимумов. Это и приводит к тому, что с ростом h при превышении некого граничного значения h=h_г наблюдается уменьшение U_вн* за счет компенсации электромагнитного воздействия участков металла с увеличенной и уменьшенной величинами µ_d. Проведенные исследования показали, что h_г уменьшается с ростом Н и при величине H, соответствующей техническому насыщению, h_г приближается к Т/2 при равномерном намагничивании по толщине контролируемого участка. Таким образом, при считывании информации о подповерхностном дефекте по изменению µ_d на поверхности металла удается получить однозначную информацию о глубине подповерхностных дефектов, расположенных глубже, чем половина толщины контролируемого объекта. Именно выявление подобных дефектов магнитным методом составляет проблему из-за низкой к ним чувствительности. Вместе с тем, выявление дефектов, развивающихся с тыльной стороны ферромагнитного объекта и превышающих по глубине половину его толщины, может быть легко осуществлено магнитным методом, путем регистрации созданных дефектом магнитных потоков рассеяния. Для этого одновременно с регистрацией изменений осуществляется регистрация В с помощью датчика 8 Холла. Возможна регистрация изменений магнитных потоков рассеяния и другими магниточувствительными элементами, например феррозондами. Датчик Холла 8 для обеспечения требуемой чувствительности должен иметь площадь активной зоны порядка 1 2 мм², что не ухудшает локальности контроля. Сигнал с его выхода после компенсации компенсатором 10 через усилитель 11 поступает на второй вход блока 7. В блоке 7 задается условие, что о параметрах выявленного дефекта судят по величине , если не превышается величина В_г, соответствующая значению h_г. Зависимость В= В(h) зависит от h монотонно (фиг.5), что позволяет надежно выявлять дефекты и однозначно оценивать их параметры и при h>h_г.

Заявляемый способ по сравнению с известным обеспечивает выявление подповерхностных дефектов в ферромагнитных материалах при более высокой локальности контроля, за счет считывания информации о поверхностных дефектах глубиной менее h_г по изменению дифференциальной магнитной проницаемости на поверхности контролируемого объекта и о дефектах с глубиной h h_г по изменению магнитных потоков рассеяния над контролируемым участком.

Источники информации

1. Неразрушающий контроль: Справочник: В 7 т. Под общ. ред. В.В.Клюева. Т6: В 3 кн. Кн.1. Магнитные методы контроля / В.В.Клюев, В.Ф.Мужицкий, Э.С.Горкунов, В.Е.Щербинин. — М.: Машиностроение, 2004. — С.96-98.

2. Неразрушающий контроль: Справочник: В 7 т. Под общ. ред. В.В.Клюева. Т6: В 3 кн. Кн.1. Магнитные методы контроля / В.В. Клюев, В.Ф.Мужицкий, Э.С.Горкунов, В.Е.Щербинин. — М.: Машиностроение, 2004. — С.96-98 (прототип).

ФОРМУЛА ИЗОБРЕТЕНИЯ

Способ выявления подповерхностных дефектов в ферромагнитных объектах, заключающийся в том, что контролируемый объект намагничивают системой намагничивания, возбуждают с помощью вихретокового преобразователя вихревые токи, сканируют поверхность контролируемого объекта, регистрируют в процессе сканирования изменения U_ВН вносимых в вихретоковый преобразователь параметров, отличающийся тем, что частоту возбуждаемых вихревых токов выбирают из условия их проникновения в тонкий поверхностный слой контролируемого объекта, проводят измерение, по меньшей мере, одной из составляющей В индукции магнитных потоков рассеяния, а о наличии подповерхностных дефектов судят по совокупности полученных изменений U_ВН и В.

www.freepatent.ru

Подповерхностный дефект — Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 4

Подповерхностный дефект

Cтраница 4

Эта зависимость изображена на графике ( рис. 1 — 24 6) для подповерхностных дефектов в виде волосовин. [46]

Приборы обоих типов обнаруживают поверхностные дефекты глубиной более 0 22 мм, а также подповерхностные дефекты труб в процессе движения. [47]

Приборы обоих типов обнаруживают поверхностные дефекты глубиной более 0 22 мм, а также подповерхностные дефекты труб в потоке. [48]

Для выявления поверхностных дефектов при мокром методе рекомендуется применение мелких частиц, а для подповерхностных дефектов при сухом методе — крупных. [49]

Капиллярный и магнитопорошковый контроль выполняют с целью выявления поверхностных, а в случае магнитопорошкового контроля и подповерхностных дефектов. [50]

Дополнительными видами контроля, устанавливаемыми чертежами, НТД ( ПТД) с целью определения поверхностных или подповерхностных дефектов, являются капиллярный и магнитопорошковый контроль сварных соединений и изделий. [51]

При поверхностном слое изделия с магнитомягкими свойствами ( Я08 А / см) поле рассеяния от подповерхностного дефекта уменьшается, а при магнитотвердом поверхностном слое изделия, например при наличии наклепа, поле дефекта увеличивается. [52]

При намагничивании деталей переменным током хорошо выявляются поверхностные дефекты, а в приложенном магнитном поле — и подповерхностные дефекты на глубине до 0 5 — 1 мм. Дефекты, расположенные более глубоко, обнаружить не удается, так как при применении переменного тока глубокие слои детали не намагничиваются. Такое же явление наблюдается при намагничивании переменным магнитным полем. [53]

P, б) В дефектоскопах с отстройкой от влияния зазора на сигнал способом проекции чувствительность к подповерхностным дефектам убывает медленно с увеличением глубины залегания 6 и может быть выше, чем к поверхностным дефектам. [54]

Из приведенного на рис. 1 — 22 графика следует, что разрешающая способность магнитной порошковой дефектоскопии для выявления подповерхностных дефектов чрезвычайно мала. Однако для выявления поверхностных дефектов этот метод дефектоскопии является одним из наилучших. [56]

С применением способа воздушной взвеси магнитного порошка могут быть решены задачи обнаружения трещин, волосовин, находящихся под слоем хрома; подповерхностных дефектов, прижогов на деталях простых форм, выявления направления волокон и макроструктуры в металле деталей. Обычным методом магнито-порошкового контроля ( магнитной суспензией или сухого порошка) такие задачи во многих случаях решить не удается. [57]

Полная глубина получается умножением величины я / 5 на S ( толщину стенки) для поверхностного дефекта и на 25 для подповерхностного дефекта. [59]

Капиллярный и магнитопорошковый контроль сварных соединений и изделий являются дополнительными методами контроля, устанавливаемыми чертежами и НД с целью определения поверхностных или подповерхностных дефектов. [60]

Страницы: 1 2 3 4 5

www.ngpedia.ru

Способ обнаружения поверхностных и подповерхностных дефектов изделий

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

744301 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 291276 (21) 2435780/18-25 с присоединением заявки ¹ (23) ПриоритетвЂ”

Опубликовано 3006,80 Бюллетень № 24

G 01 N 25/72

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621.791.1 (088. 8) Дата опубликования описания 05. 07.80 (72) Авторы изобретения

Е. Ф. Гаврилин, А. Л. Дайкер, B. В. Басов, A. Е. Конаш и A. Н. Белокур

Научно-исследовательский институт металлургии (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ

И ПОДПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ ИЗДЕЛИЙ

Изобретение относится к области контроля качества поверхности прокатной продук ции в черной металлургии.

В настоящее время контроль качества понерхности проката н анной металлургии производится: .::;- правило, на последней стадии rе.= ;: вЂ”,::,:;. вЂ” перед отправкой потребител .,:ироко используемым методом является визуальный. Контролер-оператор осматривает заготовки и помечает местоположение дефекта, которое впоследствии удаляют наждачной или огневой зачисткой.

Визуальный метод, при котором решающую роль играет острота зрения оператора, не может дать полного представления о дефектах. По этой причине при зачистке зачастую приходится обрабатынать поверхность, во много раэ превышающую нужную. 2О

В последнее время для контроля качества материалов и изделий получают распространение тепловые методы.

Известен способ дефектоскопии изделий, заключающийся в том, что контролируемую зону изделия нагревают путем пропускания в течение . определенного времени постоянного по величине тока, измеряют при помощи термопары температуру нагрева и по отклонению этой температуры от температуры нагрева бездефектной зоны судят о наличии дефекта (1).

Наиболее близким, техническим решением является способ обнаружения поверхностных и подповерхностных дефектов изделий, основанный на нагреве изделия токами высокой частоты и регистрации дефектов по наличию градиента температуры поверхности (2).

Известные методы обладают общим недостатком вЂ” имеют низкую чувствительность и разрешающую способность к выявлению дефектов на поверхности металлических изделий. Они позноляют выявлять дефекты (трещины, пустоты, включения и т; п.), расположенные перпендикулярно направлению теплового потока и имеющие протяженность, соизмеримую с толщиной изделия.

Целью изобретения является повышение разрешающей способности и чувствительности способа.

Для этого нагрев заготовки ведут с частотой тока, при которой глубина нагрева ранна толщине контролируемого слоя, а заготовку перемещают со скорос тью О, 4-1 м/c .

744301 учитывая необходимость исключения образования окалины и обезуглероженного слоя на поверхности прокатных заготовок, нагрев последних нецелесообразно производить выше 150-250 С.

8 этом случае глубина проникновения вихревых токов увеличивается не более, чем на 20В и является обратно пропорциональной корню квадратному из частоты, Сущность предложенного способа обнаружения дефектов заключается в следующем. В тепловых методах контроля с использованием традиционных средств нагрева градиент температур на поверхности изделия, являющийся критерием наличия дефекта, обусловлен различной скоростью передачи тепла на дефектных и беэдефектных участках иэделия. На массивных металлических изделиях, в частности, прокатных эаготовках, добиться градиента температур более нескольких десятков градусов даже на относительно крупных дефектахх, как правило, не удаетс я .

В предложенном способе градиент температур создается, в основном, не за счет различной теплопроводности на дефектных и бездефектных участках заготовки, а эа счет неравномерной плотности вихревых токов на этих участках.

В районе дефекта происходит концентрация магнитного поля, вследствие чего удельная плотность Bихревых токов становится выл»е. Большей плотности вихревых токов при прочих равных условиях соответствует и большая температура в нагреваемом участке.

Задача повышения чувствительности способа сводится к обеспечению максимальной неравномерности плотности вихревых токов в местах дефектов .

Максимальная неравномерность плстности вихревых токов в местах дефектов достигается лишь в том случае, когда толщина прогрева равна глубине преимущественного залегания дефектов (толщина слоя, подлежащего контролю)

Градиент температур на поверхности заготовки между дефектными и бездефектными участками может достигать нескольких сотен градусов.

Обеспечение требуемой толщины нагрева достигается изменением частоты тока. Необходимая частота определяется по известным зависимостям и табличным данным.

Как только появился градиент температуры поверхности, он сразу стремится исчезнуть эа счет влияния теплопроводимости материала изделия.

Это влияние необходимо свести к минимуму, для чего необходимо сократить время от момента возникновения градиента до момента измерения, т. е. время удаления контролируемого участка иэ эоны нагрева. Этот отрезок времени определяется скоростью перемещения контролируемой заготовки и применяемыми средствами измерения температуры. Для контроля массивных изделий, например, прокатных заготовок, существует вполне определенный диапазон скоростей перемещения заготовки. Он находится в пределах 0,4-1 м/с При этих скоростях современные средства измерения температуры позволяют обнаружить мельчайшие трещины, пустоты и неметаллические включения в поверхностном слое заготовки.

Пример. Заготовка вЂ” квадрат

80 мм, ст. 65 r вЂ” ферромагнитная сталь. Глубина преимущественного залегания дефектов вЂ” толщина контролируемого слоя вЂ” 0,25 мм. Локальный перегрев определяют с помощью термочувствительного покрытия, с температурой термохимического превращения

250 С. Следовательно, средняя температура нагрева всей поверхности при скорости движения заготовки равной

0,4 м/с (не менее) должна составлять

200 220 С . Толщина нагреваемого слоя

0,25-0,3 мм.

Иэ равенства толщины нагрева (глубины проникновения тока) глубине контролируемого слоя по описанной вы»е методике определяют частоту тока .

Она равна 9500 Гц.

Выбирают машинный преобразователь частоты на 10 10 Гц.

Одновитковый индуктор с ферромагнитным магнитопроводом выполняют по форме заготовки с зазором, равным

5 мм. Ширина индуктора вЂ” 15 мм.

По заданным и полученным данным (размер заготовки, толщина нагреваемого слоя, скорость перемещения, температура поверхности, конструкция индуктора) определяют мощность преобраэователя. Она равна 92 кВт.

Предлагаемый способ позволит производить выборочную зачистку заготовок взамен сплошной, что дает значительный экономический эффект. Этот эффект будет получен Эа счет переноса вспомогательных операций по обнаружению и разметке дефектов с участка зачистки на участок дефектоскопии.

Этим самым, увеличивается машинное время на зачистке металла.

Формула изобретения

Способ обнаружения поверхностных и подповерхностных дефектов изделий, преимущественно прокатных заготовок, основанный на нагреве поверхности заготовки токами высокой частоты и регистрации дефектов по наличию градиента температуры поверхности, о т л и : а ю шийся тем, что, с целью повы»ения разрешающей способности и чувствительности способа, нагрев заготовки ведут с частотой тока, при которой глубина нагрева равна толщине контролируемого слоя, а

744301

Составитель С. Беловодченко .Редактор Н. Коляда Техред Л.Теслюк Корректор И. Муска

Тираж 1019 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35,,Раушская наб., д. 4/5

Заказ 3658/3

Филиал ППП Патент ° г ° Ужгород, ул. Проектная, 4 эаготовку перемещают со скоростью

0,4-1 м/c..

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

Ф 263969, кл. G 01 N 25/72, 1967.

2. Патент США 9 3681970, кл. 73-154 ° 1970 (прототип).

findpatent.ru

ПОДПОВЕРХНОСТНЫЙ ДЕФЕКТ — это… Что такое ПОДПОВЕРХНОСТНЫЙ ДЕФЕКТ?

ПОДПОВЕРХНОСТНЫЙ ДЕФЕКТ: [subsurface defect] — дефект на глубине 0,5-1,0 мм от поверхности изделия.

ПОДКЛАДКА
ПОДПОР

Смотреть что такое «ПОДПОВЕРХНОСТНЫЙ ДЕФЕКТ» в других словарях:

подповерхностный дефект — На глубине 0,5 1,0 мм от поверхности изделия. [http://metaltrade.ru/abc/a.htm] Тематики металлургия в целом EN subsurface defect … Справочник технического переводчика
подповерхностный дефект — [subsurface defect] на глубине 0,5 1,0 мм от поверхности изделия. Смотри также: Дефект дефект формы дефект упаковки радиационный дефект дефект прокатки … Энциклопедический словарь по металлургии
Подповерхностный дефект при магнитопорошковой дефектоскопии — Подповерхностный дефект несплошность, располагающаяся у поверхности детали, но не выходящая на поверхность… Источник: МАШИНЫ ГРУЗОПОДЪЕМНЫЕ . КОНТРОЛЬ МАГНИТОПОРОШКОВЫЙ. ОСНОВНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ. РД РОСЭК 003 97 (утв. РосЭК 23.12.1997) … Официальная терминология
дефект подповерхностный — Дефект, расположенный вблизи поверхности объекта контроля и не выходящий на ее поверхность. Примечание Подповерхностные дефекты в отличие от поверхностных при магнитопорошковом контроле образуют, как правило, нечеткие, размытые индикаторные… … Справочник технического переводчика
дефект прокатки — [rolling defect] дефект (1.) поверхности или формы металла, образующийся при прокатке. Смотри также: Дефект дефект формы дефект упаковки радиационный дефект … Энциклопедический словарь по металлургии
дефект разливки — [casting defect] дефект (1.) металла, обусловленный нарушением технологии разливки. Смотри также: Дефект дефект формы дефект упаковки радиационный дефект дефект прокатки … Энциклопедический словарь по металлургии
дефект формы — [shape defect] отклонение формы изделия от заданной технологическим условиями (напр, кривизна, неплоскостность, серповидность и т.д.). Смотри также: Дефект дефект упаковки радиационный дефект … Энциклопедический словарь по металлургии
дефект упаковки — [stacking fault] нарушение чередования плотноупакованных атомных слоев в кристаллической решетке. Например, чередование атомных слоев в плотной упаковке АВСАСАВС… свидетельствует, что в ГЦК решетке (чередование слоев АВСАВС…) имеется… … Энциклопедический словарь по металлургии
дефект кристаллической решетки — [lattice defect] нарушение закономерного периодического расположения материальных частиц (атомов, ионов, молекул) по узлам пространственной решетки кристалла. Дефекты кристаллической решетки подразделяют на точечные, линейные и поверхностные.… … Энциклопедический словарь по металлургии
Дефект — [defect] 1. Отклонение от предусмотренного техническими условиями качества готового металлоизделия или полупродукта, частично или полностью нарушенная совокупность свойств изделия данного вида (химический состав, структура, сплошность и др.),… … Энциклопедический словарь по металлургии

metallurgy_dictionary.academic.ru

дефект подповерхностный — это… Что такое дефект подповерхностный?

дефект подповерхностный

дефект подповерхностный
Дефект, расположенный вблизи поверхности объекта контроля и не выходящий на ее поверхность.
Примечание
Подповерхностные дефекты в отличие от поверхностных при магнитопорошковом контроле образуют, как правило, нечеткие, размытые индикаторные рисунки.
[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения (справочное пособие). Москва 2003 г.]

Тематики

виды (методы) и технология неразр. контроля

EN

near surface discontinuity

Справочник технического переводчика. – Интент. 2009-2013.

дефект поверхностный
дефект потери кадра

Смотреть что такое «дефект подповерхностный» в других словарях:

дефект прокатки — [rolling defect] дефект (1.) поверхности или формы металла, образующийся при прокатке. Смотри также: Дефект дефект формы дефект упаковки радиационный дефект … Энциклопедический словарь по металлургии
Подповерхностный дефект при магнитопорошковой дефектоскопии — Подповерхностный дефект несплошность, располагающаяся у поверхности детали, но не выходящая на поверхность… Источник: МАШИНЫ ГРУЗОПОДЪЕМНЫЕ . КОНТРОЛЬ МАГНИТОПОРОШКОВЫЙ. ОСНОВНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ. РД РОСЭК 003 97 (утв. РосЭК 23.12.1997) … Официальная терминология
подповерхностный дефект — На глубине 0,5 1,0 мм от поверхности изделия. [http://metaltrade.ru/abc/a.htm] Тематики металлургия в целом EN subsurface defect … Справочник технического переводчика
дефект разливки — [casting defect] дефект (1.) металла, обусловленный нарушением технологии разливки. Смотри также: Дефект дефект формы дефект упаковки радиационный дефект дефект прокатки … Энциклопедический словарь по металлургии
дефект формы — [shape defect] отклонение формы изделия от заданной технологическим условиями (напр, кривизна, неплоскостность, серповидность и т.д.). Смотри также: Дефект дефект упаковки радиационный дефект … Энциклопедический словарь по металлургии
дефект упаковки — [stacking fault] нарушение чередования плотноупакованных атомных слоев в кристаллической решетке. Например, чередование атомных слоев в плотной упаковке АВСАСАВС… свидетельствует, что в ГЦК решетке (чередование слоев АВСАВС…) имеется… … Энциклопедический словарь по металлургии
подповерхностный дефект — [subsurface defect] на глубине 0,5 1,0 мм от поверхности изделия. Смотри также: Дефект дефект формы дефект упаковки радиационный дефект дефект прокатки … Энциклопедический словарь по металлургии
дефект кристаллической решетки — [lattice defect] нарушение закономерного периодического расположения материальных частиц (атомов, ионов, молекул) по узлам пространственной решетки кристалла. Дефекты кристаллической решетки подразделяют на точечные, линейные и поверхностные.… … Энциклопедический словарь по металлургии
Дефект — [defect] 1. Отклонение от предусмотренного техническими условиями качества готового металлоизделия или полупродукта, частично или полностью нарушенная совокупность свойств изделия данного вида (химический состав, структура, сплошность и др.),… … Энциклопедический словарь по металлургии
ПОДПОВЕРХНОСТНЫЙ ДЕФЕКТ — [subsurface defect] дефект на глубине 0,5 1,0 мм от поверхности изделия … Металлургический словарь

technical_translator_dictionary.academic.ru

Подповерхностные дефекты – подповерхностный дефект — это… Что такое подповерхностный дефект?

подповерхностный дефект — это… Что такое подповерхностный дефект?

Смотреть что такое «подповерхностный дефект» в других словарях:

Подповерхностный дефект — Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1

Подповерхностный дефект

способ выявления подповерхностных дефектов в ферромагнитных объектах — патент РФ 2442151

ФОРМУЛА ИЗОБРЕТЕНИЯ

Подповерхностный дефект — Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 4

Подповерхностный дефект

Способ обнаружения поверхностных и подповерхностных дефектов изделий

ПОДПОВЕРХНОСТНЫЙ ДЕФЕКТ — это… Что такое ПОДПОВЕРХНОСТНЫЙ ДЕФЕКТ?

Смотреть что такое «ПОДПОВЕРХНОСТНЫЙ ДЕФЕКТ» в других словарях:

дефект подповерхностный — это… Что такое дефект подповерхностный?

Тематики

EN

Смотреть что такое «дефект подповерхностный» в других словарях:

Добавить комментарий Отменить ответ